David C. Joy (Autor) / Najlacnejšie knihy

Knihy od autora David C. Joy

Zobrazené 1 – 13 z 13 výsledkov

Ďalšie

Stránka 1. z 1

Predchádzajúci

Radiť podľa a zobraziť tiež nedostupné

  1. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Joseph R. Michael, Nicholas W. M. Ritchie, John Henry J. Scott | Springer-Verlag New York Inc., 2017


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 13 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    110.78

    Zľava 9 %
    Ušetríte 11.96 €
  2. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Dale E. Newbury, David C. Joy | Springer Science+Business Media, 2002


    U vydavateľa na objednávku - Odosielame za 17 - 27 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    125.96

  3. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2018


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 8 - 11 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    100.76

    Zľava 9 %
    Ušetríte 10.85 €
  4. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    102.99

    Zľava 7 %
    Ušetríte 8.63 €
  5. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David C. Joy, Charles E. Lyman | Springer-Verlag New York Inc., 2013


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 18 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    95.60

  6. Helium Ion Microscopy

    Helium Ion Microscopy

    David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 8 - 11 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    51.69

    Zľava 7 %
    Ušetríte 4.28 €
  7. Principles of Analytical Electron Microscopy

    Principles of Analytical Electron Microscopy

    Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer-Verlag New York Inc., 2013


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    154.39

    Zľava 7 %
    Ušetríte 12.87 €
  8. Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, Patrick Echlin, David C. Joy | Springer, Berlin, 2011


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    102.99

    Zľava 7 %
    Ušetríte 8.63 €
  9. Introduction to Electron Holography

    Introduction to Electron Holography

    Lawrence F. Allard, David C. Joy, Edgar Völkl | Springer-Verlag New York Inc., 2012


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    102.99

    Zľava 7 %
    Ušetríte 8.63 €
  10. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer-Verlag New York Inc., 2013


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 5 - 8 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    102.99

    Zľava 7 %
    Ušetríte 8.63 €
  11. Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

    Patrick Echlin, C.E. Fiori, Joseph Goldstein, David C. Joy | Springer Science+Business Media


    50 % šanca - Prehľadáme celý svet

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    192.13

  12. Principles of Analytical Electron Microscopy

    Principles of Analytical Electron Microscopy

    Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer Nature B.V., 2013


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 18 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Brožovaná

    56.95

    Zľava 0 %
    Ušetríte 0.01 €
  13. Principles of Analytical Electron Microscopy

    Principles of Analytical Electron Microscopy

    Joseph Goldstein, David C. Joy, Alton D. Romig Jr. | Springer Science+Business Media


    Skladom u dodávateľa - Odosielame za 10 - 13 dní

    Jazyk: Angličtina

    Väzba: Pevná

    154.39

    Zľava 7 %
    Ušetríte 12.87 €

Ďalšie

Stránka 1. z 1

Predchádzajúci

Záznamov na stránku

Filtrovať výsledky

Jazyk
  • Angličtina13
Väzba
  • Brožovaná9
  • Pevná4
Dostupnosť
  • Do 2 týždňov9
  • Do mesiaca3
  • Dostupnosť neznáma1
Rok vydania
  • 20181
  • 20171
  • 20136
  • 20121
  • 20111
  • 20021
Rozsah ceny

-



Osobný odber Bratislava a 12744 dalších

Copyright ©2008-26 najlacnejsie-knihy.sk Všetky práva vyhradenéSúkromieCookies


Môj účet: Prihlásiť sa
Všetky knihy sveta na jednom mieste. Navyše za skvelé ceny.

Nákupný košík ( prázdny )

Vyzdvihnutie v Zásielkovni
zadarmo nad 59,99 €.

Nachádzate sa: